正交偏光顯微鏡下晶體的光性特征
發(fā)布人：shpuda發(fā)布時(shí)間：2014/1/20
(1)消光現象。晶體在正交偏光下呈現黑暗的現象，稱(chēng)為消光現象。消光現象有兩種情況:
1)全消光。當光波通過(guò)的是晶體光率體的圓切面，由于光波可沿圓切面的任意方向振動(dòng)，因此，來(lái)自下偏光顯微鏡的光波通過(guò)晶體光率體的圓切面后與上偏光振動(dòng)方向垂直而不能透出上偏光顯微鏡，使得晶體光率體的圓切面方向變成黑暗;旋轉物臺360°，這種黑暗現象始終存在，稱(chēng)之為全消光:均質(zhì)體如非晶體、等軸晶系晶體和非均質(zhì)體垂直于光軸的切面均有全消光現象。
2)四次消光。當光波通過(guò)的是晶體光率體的橢圓切面，當橢圓切面的長(cháng)、短半徑方向與_上、下偏光顯微鏡的振動(dòng)方向一致時(shí)，來(lái)自下偏光顯微鏡的光波沿橢圓的長(cháng)、短半徑方向透過(guò)晶體而與上偏光垂直，不能透出上偏光顯微鏡，使晶體對應的橢圓切面方向變成黑暗。旋轉物臺360°，這種黑暗現象只有在光率體橢圓切面的長(cháng)短半徑方向與仁下偏光方向一致的4個(gè)位置存在，故稱(chēng)4次消光。非均質(zhì)體如中、低級晶族晶體的非圓切面都存在著(zhù)4次消光的特征。
非均質(zhì)體的橢圓切面在正交偏光下處于消光時(shí)的位置，稱(chēng)消光位。晶體光率休切面處于消光位就意味著(zhù)該橢圓切面的長(cháng)、短半徑與上，下偏光鏡的振動(dòng)方向平行。
根據晶體處于消光位時(shí)，解理紋、雙晶縫或邊棱與目鏡十字絲的關(guān)系，可將非均質(zhì)體的消光分力下述3種:
I)平行消光。晶體處于消光位時(shí)，解理紋、雙晶縫或邊棱與目鏡十字絲之一平行。
2)斜消光。晶體處于消光位時(shí)，解理縫、雙晶縫或邊棱與目鏡十字絲斜交。
3)對稱(chēng)消光。在具有兩組解理的切面上，當晶體處于消光位時(shí)，目鏡十字絲平分兩組解理的夾角。
三方、四方、六方晶系晶體的切面以平行消光和對稱(chēng)消光為特征。斜方晶系晶體切面以平行消光和對稱(chēng)消光為主要特征，同時(shí)也可見(jiàn)斜消光切面。單斜晶系切面以斜消光為主，特征方位的切面方可見(jiàn)平行和對稱(chēng)消光。三斜晶系的切面均為斜消光。
(2)干涉現象。自然光通過(guò)下偏光顯微鏡以平面偏光進(jìn)人樣品薄片后，由于非均質(zhì)體的雙折射.分解成振動(dòng)方向垂直，傳播速度不同的兩種偏光，它們透出薄片的光程不同，存在光程差.傳至上偏光顯微鏡時(shí)，導致光的干涉效應。
如果采用白光照明，晶體在保持原形貌情況下呈現各種各樣的色彩.稱(chēng)之為干涉色。
干涉色的種類(lèi)，只與透過(guò)薄片的兩束偏光的光程差有關(guān)。當光程差為零時(shí)，干涉色為黑色，光程差逐漸增加，干涉色有規律地順著(zhù)下列次序變化:鋼灰、藍灰、灰自、自、黃白、亮黃、橙黃、紅、紫、紫藍、藍、藍綠、綠、黃綠、橙黃、鮮紅、淡紫、灰藍、翠綠、淡黃、淡紅、淡藍、淡綠……高級白(詳見(jiàn)于涉色色譜表)。(非原創(chuàng ))
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