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偏光顯微鏡之透射電鏡的基本原理介紹

發(fā)布人:shpuda發(fā)布時(shí)間:2014/7/14

  在透射電鏡中待觀(guān)察樣品被制成薄膜狀,利用入射電子束與它作用后的透射電子作為信號,依靠電子透鏡將其聚焦成像,并經(jīng)多級放大,最后在熒光屏或照相底片上給出所要的圖象.
  透射電子共有三類(lèi)。但是必須指出透射電鏡成像所利用的是,三者中與樣品性狀關(guān)系最密切的透射式彈性散射電子。因為研究表明重元素對電子的彈性散射幾率大,而且這類(lèi)電子大多數分布在大散射角處.此外,樣品厚度越大者,這種散射也越多。如果樣品是晶體,即其原子排列整齊并有一定周期性,那么它與電子起作用的不只是一個(gè)個(gè)孤立的原子,而要考慮晶體的整個(gè)周期勢場(chǎng)的作用。作用后的彈性散射電子更有一些特征,它們能形成反映祥品結構特點(diǎn)的衍射圖??傊?,透射電鏡的基本原理無(wú)非是如何控制并利用這三類(lèi)透射電子,尤其是其中的彈性散射電子.
  如果在透射電鏡的主機上再配備其他一些附件,如X射線(xiàn)能譜儀,電子能量損失譜儀等,有針對性地檢測電子與樣品作用后產(chǎn)生的其他信號。那么,在觀(guān)察樣品形態(tài)、結構的同時(shí),還可進(jìn)行其他多種分析.這就是當代電鏡的另一個(gè)重要分支方向—分析電鏡(AEM)。

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