借用偏光顯微鏡可做微區成分的分析
發(fā)布人：shpuda發(fā)布時(shí)間：2014/1/21
在觀(guān)察形貌時(shí)，因為掃描電子像小，不是同時(shí)記錄，故能在微小區域進(jìn)行成分分析和晶體學(xué)分析。掃描電子像是由分解為近百萬(wàn)個(gè)像點(diǎn)，即所謂像素，逐個(gè)依次記錄構成的。通過(guò)掃描電子偏光顯微鏡，除了觀(guān)察表面形貌外，還能進(jìn)行成分和元素分布的分析。因為在同一圖像上各點(diǎn)均同時(shí)記錄，所以這點(diǎn)在其它類(lèi)型偏光顯微鏡是辦不到的。
此外，應用三透鏡式掃描電子偏光顯微鏡，很容易從微小區域獲得電子通道圖，進(jìn)行結晶學(xué)分析。選區尺寸可局限在10微米到2微米的小區域。因此，又可以在厚塊樣品小區域中測定晶體向位、晶胞大小以及斷口附近微小區域的應變等。
由于掃描電子偏光顯微鏡具有上述優(yōu)點(diǎn)，頗受科研工作者的重視，用途日益廣泛。從發(fā)展趨勢來(lái)看，它將象光學(xué)顯微鏡那樣普遍地在實(shí)驗室中應用。
上一篇：掃描電子偏光顯微鏡在生物學(xué)上的應用下一篇：電子偏光顯微鏡在醫學(xué)和生物學(xué)方面應用的展望