在偏光顯微鏡錐光下的觀(guān)察介紹
發(fā)布人：shpuda發(fā)布時(shí)間：2014/2/25
前而已經(jīng)講過(guò)，在單偏光顯微鏡和正交顯微鏡下可以觀(guān)察到非均質(zhì)體礦物的好多內容，例如晶體的形狀，貝克線(xiàn)，突起，糙面，多色性，解理，消光現象，干涉色，延性符號和雙品等等。但仍有一系列光性沒(méi)有測定，如晶體的軸性－軸晶或二軸晶，光性符號—正光性或負光性，光軸角等。這些性質(zhì)在錐光鏡下可以解決。
一、錐光的產(chǎn)生
當用錐光時(shí)，即將載物臺下的聚光鏡加上，使由下偏光顯微鏡上來(lái)的平行偏光經(jīng)過(guò)聚光鏡后，形成向中央會(huì )聚的錐形光，即為錐光。
此錐光交于焦點(diǎn)，又從焦點(diǎn)向四方散射，除中央一條光線(xiàn)為垂直不變外，其余的是傾斜散射，其傾斜角度越近，凸透鏡邊部愈大，但光線(xiàn)無(wú)論如何傾斜，其光波振擺方向仍是平行下偏光顯微鏡的振擺方向，并且是偏光。
二、一軸晶干涉圖
在上面討論中要用錐光時(shí)，是在正交偏光的情況下加人聚光鏡。將接物鏡換成高倍數的(60 x或45 x)，然后加上勃氏透鏡，這樣可見(jiàn)到一種特殊的圖案，這種圖案稱(chēng)為干涉圖。
均質(zhì)體礦物，對任何方向的入射光線(xiàn)在正交偏光下永久消光，因此，就不產(chǎn)生干涉圖。
一軸晶與二軸晶各有不同特點(diǎn)的干涉圖，且切片方向不同，干涉圖形也不同，因此，可用干涉圖來(lái)區別軸性，確定光率體方位及其他光學(xué)常數。
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