單偏光顯微鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)
發(fā)布人：shpuda發(fā)布時(shí)間：2014/2/21
所謂偏光顯微鏡，就是只用一個(gè)偏光顯微鏡(通常用下偏光顯微鏡)觀(guān)察、側定晶體的先學(xué)性質(zhì)。晶體的某些特征，如形態(tài)、解理等，不用偏光顯微鏡也能觀(guān)察，但用一個(gè)偏光顯微鏡也不影響其效果，所以通常仍在單偏光顯微鏡下進(jìn)行觀(guān)察。
單偏光顯微鏡下能夠觀(guān)察、側定的主要特征有以下三個(gè)方面:形態(tài)和解理;顏色和多色性;比較礦物折射率的相對高低等。
一、晶體的形態(tài)
礦物晶體的形態(tài)決定于它的化華成分、晶體結構和生成條件。每一種晶體都具有一定的形態(tài)。但在工藝巖石切片中所見(jiàn)的礦物最形，并不是整個(gè)立體，而是一個(gè)切面。同一晶體由干切面方向不同，可以表現出各種不同形狀。在實(shí)際工作中必須綜合許多方向的切面，才能正確判斷晶體的形態(tài)。伍在柱狀、針狀或板狀晶體的切片中，近于縱切面和橫切面的形狀比較常見(jiàn)。
二、解理及解理角的測定
解理的觀(guān)察
許多礦物部具有解理，但解理的方向、組處及完善程度并非全同，所以解組是鑒定礦物的一個(gè)重要依據。同時(shí)，解理面還往往與晶面、晶軸有一定的關(guān)系，所以解理還可以作為測定礦物某些光學(xué)常數的輔助條件或根據。
礦物的解理面在薄片中是一些平行的細線(xiàn)，稱(chēng)為解理縫。根據解理的完善提皮，一般分為以下三級:
(1)極完善解理 解理縫細密而直長(cháng)，如云母。
(2)完善解理 解理縫雖清楚，但未完全聯(lián)貫，如輝石、角閃石。
(3)不完善解理 解理縫斷斷續續，有時(shí)僅見(jiàn)痕跡，如橄欖石。
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