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顯微鏡的七種觀(guān)察方式

發(fā)布人:oiabc.cn發(fā)布時(shí)間:2014/8/15

  1. 明視野觀(guān)察(Bright field  BF
     
    明視野鏡檢是大家比較熟悉的一種鏡檢方式,廣泛應用于病理、檢驗,用于觀(guān)察被染色的切片,所有顯微鏡均能完成此功能。

  2. 暗視野觀(guān)察(Dark field  DF
     
    暗視野實(shí)際是暗場(chǎng)照明發(fā)。它的特點(diǎn)和明視野不同,不直接觀(guān)察到照明的光線(xiàn),而觀(guān)察到的是被檢物體反射或衍射的光線(xiàn)。因此,視場(chǎng)成為黑暗的背景,而被檢物體則呈現明亮的象。
     
    暗視野的原理是根據光學(xué)上的丁道爾現象,微塵在強光直射通過(guò)的情況下,人眼不能觀(guān)察,這是因為強光繞射造成的。若把光線(xiàn)斜射它,由于光的反射,微粒似乎增大了體積,為人眼可見(jiàn)。
     
    暗視野觀(guān)察所需要的特殊附件是暗視野聚光鏡。它的特點(diǎn)是不讓光束由下至上的通過(guò)被檢物體,而是將光線(xiàn)改變途徑,使其斜射向被檢物體,使照明光線(xiàn)不直接進(jìn)入物鏡,利用被檢物體表面反射或衍射光形成的明亮圖象。暗視野觀(guān)察的分辨率遠高于明視野觀(guān)察,最高達0.020.004

  3. 相差鏡檢法(Phase contrast  PH
     
    在光學(xué)顯微鏡的發(fā)展過(guò)程中,相差鏡檢術(shù)的發(fā)明成功,是近代顯微鏡技術(shù)中的重要成就。我們知道,人眼只能區分光波的波長(cháng)(顏色)和振幅(亮度),對于無(wú)色通明的生物標本,當光線(xiàn)通過(guò)時(shí),波長(cháng)和振幅變化不大,在明場(chǎng)觀(guān)察時(shí)很難觀(guān)察到標本.
     
    相差顯微鏡利用被檢物體的光程之差進(jìn)行鏡檢,也就是有效地利用光的干涉現象,將人眼不可分辨的相位差變?yōu)榭煞直娴恼穹?,即使是無(wú)色透明的物質(zhì)也可成為清晰可見(jiàn)。這大大便利了活體細胞的觀(guān)察,因此相差鏡檢法廣泛應用于倒置顯微鏡。

     
    相差顯微鏡的基本原理是,把透過(guò)標本的可見(jiàn)光的光程差變成振幅差,從而提高了各種結構間的對比度,使各種結構變得清晰可見(jiàn)。光線(xiàn)透過(guò)標本后發(fā)生折射,偏離了原來(lái)的光路,同時(shí)被延遲了1/4λ(波長(cháng)),如果再增加或減少1/4λ,則光程差變?yōu)?/span>1/2λ,兩束光合軸后干涉加強,振幅增大或減下,提高反差。在構造上,相差顯微鏡有不同于普通光學(xué)顯微鏡兩個(gè)特殊之處:
    1.
    環(huán)形光闌(annular  diaphragm 位于光源與聚光器之間,作用是使透過(guò)聚光器的光線(xiàn)形成空心光錐,焦聚到標本上。
    2.
    相位板(annular phaseplate)在物鏡中加了涂有氟化鎂的相位板,可將直射光或衍射光的相位推遲1/4λ。分為兩種:
    1. A+
    相板:將直射光推遲1/4λ,兩組光波合軸后光波相加,振幅加大,標本結構比周?chē)橘|(zhì)更加變亮,形成亮反差(或稱(chēng)負反差)。
    2. B+
    相板:將衍射光推遲1/4λ,兩組光線(xiàn)合軸后光波相減,振幅變小,形成暗反差(或稱(chēng)正反差),結構比周?chē)橘|(zhì)更加變暗

    相差觀(guān)察可分為正相差和負相差
    正相差:適用于物質(zhì)內部細微結構的觀(guān)察,黑背景白標本
    負相差:適用于物體形態(tài),數量及活體情況的觀(guān)察,白背景黑標本
    正相差和負相差主要區別在于,物鏡后焦點(diǎn)平面上相差板鍍膜不同,所以光透過(guò)率不一樣;負相差的鏡檢效果是暗中之明,即被檢物體的合成光就比背景明亮,正相差的鏡檢效果是明中之暗,即被檢物體的合成光要比背景暗
    負相差物鏡(Negative contrast)用縮寫(xiě)字母“N”表示,正相差物鏡(Positive contrast)用縮寫(xiě)字母“P”表示

    四.微分干涉稱(chēng)鏡檢術(shù)(Differential interference contrast  DIC
     
    微分干涉鏡檢術(shù)出現于60年代,它不僅能觀(guān)察無(wú)色透明的物體,而且圖象呈現出浮雕壯的立體感,并具有相襯鏡檢術(shù)所不能達到的某些優(yōu)點(diǎn),觀(guān)察效果更為逼真。
    原理;
     
    微分干涉稱(chēng)鏡檢術(shù)是利用特制的渥拉斯頓棱鏡來(lái)分解光束。分裂出來(lái)的光束的振動(dòng)方向相互垂直且強度相等,光束分別在距離很近的兩點(diǎn)上通過(guò)被檢物體,在相位上略有差別。由于兩光束的裂距極小,而不出現重影現象,使圖象呈現出立體的三維感覺(jué)。
     
    DIC
    顯微鏡的物理原理完全不同于相差顯微鏡,技術(shù)設計要復雜得多。DIC利用的是偏振光,有四個(gè)特殊的光學(xué)組件:偏振器(polarizer)、DIC棱鏡、DIC滑行器和檢偏器(analyzer)。偏振器直接裝在聚光系統的前面,使光線(xiàn)發(fā)生線(xiàn)性偏振。在聚光器中則安裝了偌瑪斯斯棱鏡,即DIC棱鏡,此棱鏡可將一束光分解成偏振方向不同的兩束光(xy),二者成一小夾角。聚光器將兩束光調整成與顯微鏡光軸平行的方向。最初兩束光相位一致,在穿過(guò)標本相鄰的區域后,由于標本的厚度和折射率不同,引起了兩束光發(fā)生了光程差。在物鏡的后焦面處安裝了第二個(gè)偌瑪斯斯棱鏡,即DIC滑行器,它把兩束光波合并成一束。
    這時(shí)兩束光的偏振面(xy)仍然存在。最后光束穿過(guò)第二個(gè)偏振裝置,即檢偏器。在光束形成目鏡DIC影像之前,檢偏器與偏光器的方向成直角。檢偏器將兩束垂直的光波組合成具有相同偏振面的兩束光,從而使二者發(fā)生干涉。xy波的光程差決定著(zhù)透光的多少。光程差值為0時(shí),沒(méi)有光穿過(guò)檢偏器;光程差值等于波長(cháng)一半時(shí),穿過(guò)的光達到最大值。于是在灰色的背景上,標本結構呈現出亮暗差。為了使影像的反差達到最佳狀態(tài),可通過(guò)調節DIC滑行器的縱行微調來(lái)改變光程差,光程差可改變影像的亮度。調節DIC滑行器可使標本的細微結構呈現出正或負的投影形象,通常是一側亮,而另一側暗,這便造成了標本的人為三維立體感,類(lèi)似大理石上的浮雕

    .偏光顯微鏡(Polarizing microscope  POL   
       
    偏光顯微鏡是鑒定物質(zhì)細微結構光學(xué)性質(zhì)的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質(zhì),在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當然這些物質(zhì)也可用染色發(fā)來(lái)進(jìn)行觀(guān)察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。
       
    偏光顯微鏡的特點(diǎn),就是將普通改變?yōu)槠膺M(jìn)行鏡檢的方法,以鑒別某一物質(zhì)是單折射(各向同行)或雙折射性(各向異性)。
    .浮雕相襯顯微鏡(RC HMC
    1975
    年,Robert Hoffman 博士發(fā)明
    2002
    年,專(zhuān)利到期,各顯微鏡廠(chǎng)家紛紛推出采用以自己名義命名的RC技術(shù)產(chǎn)品
    原理
     
    斜射光照射到標本產(chǎn)生折射、衍射,光線(xiàn)通過(guò)物鏡光密度梯度調節器產(chǎn)生不同陰影,從而使透明標本表面產(chǎn)生明暗差異,增加觀(guān)察對比度
    特點(diǎn)
    提高未染色標本的可見(jiàn)性和對比度;
    圖象顯示陰影或近似三維結構而不會(huì )產(chǎn)生光暈;
    可檢測雙折射物質(zhì)(巖石切片、水晶、骨頭) ;
    可檢測玻璃,塑料等培養皿中的細胞,器官和組織;
    聚光鏡的工作距離可以設計的更長(cháng);
    RC
    物鏡也可用于明場(chǎng),暗場(chǎng)和熒光觀(guān)察
    七:熒光顯微鏡(Fluorescence Microscopy  FL
     
    熒光鏡檢術(shù)是用短波長(cháng)的光線(xiàn)照射用熒光素染色過(guò)的被檢物體,使之受激發(fā)后而產(chǎn)生長(cháng)波長(cháng)的熒光,然后觀(guān)察。

    優(yōu)點(diǎn):
    ? 檢出能力高(放大作用)
    ? 對細胞的刺激?。梢曰铙w染色)
    ?
    能進(jìn)行多重染色
    用途:
    ? 物體構造的觀(guān)察——熒光素
    ? 熒光的有無(wú)、色調比較進(jìn)行物質(zhì)判別——抗體熒光等
    ?
    發(fā)熒光量的測定對物質(zhì)定性、定量分析

     

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