金相顯微鏡在金相檢測的發(fā)展中作用凸顯
發(fā)布人：發(fā)布時(shí)間：2020/3/19
隨著(zhù)科技的發(fā)展，行業(yè)對合金的金相檢測越來(lái)越嚴格，質(zhì)量要求高，經(jīng)常要求提供樣品的金相檢測及圖像的電子文本，傳統的金相照片已達不到此要求，而且目前在國內外，彩色的金相圖譜還是較為少見(jiàn)的。所以，制作出一套具有彩色、黑白兩種類(lèi)型的硬質(zhì)合金金相圖譜很有意義。
選取有代表性的金相試樣是金相分析研究中的重要一步。一種是系統取樣，試樣要有代表性。另一種是指定取樣，也就是根據所研究的問(wèn)題，有針對性地取樣。想要做好這項工作，就必須全面掌握各合金牌號的用途、質(zhì)量狀況、檢測標準等特點(diǎn)。
對于各牌號樣品的選取，要特別關(guān)注其代表性和合格性。在制作圖片時(shí)為了更有選擇性，一個(gè)牌號會(huì )同時(shí)選取幾片試樣，而且各牌號的同一個(gè)金相試樣磨面，在金相顯微鏡下具有上萬(wàn)個(gè)視場(chǎng)，每個(gè)視場(chǎng)的圖像千變萬(wàn)化，都存在著(zhù)差異，所以選取制作真正有代表性的圖像還必須在攝制圖像的時(shí)候仔細觀(guān)測和篩選。對于特色樣品的選取要有針對性。尤其是有缺陷類(lèi)型的樣品收集必須要在生產(chǎn)檢測中及時(shí)和長(cháng)期的跟蹤。
金相顯微鏡的偏振系統包括起偏器和檢偏器，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節更清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360度旋轉式檢偏器。360°旋轉式檢偏器可在不移動(dòng)標本的情況下，方便的觀(guān)察標本在不同偏振角度光線(xiàn)下呈現的狀態(tài)?？稍谄裣到y的基礎上加載舜宇全新研發(fā)微分干涉器，建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統。
正確的試樣制備方法對觀(guān)察、辨別、記錄和測量試樣的真實(shí)微觀(guān)形貌是非常重要的。對于制作圖譜用的金相試樣的制作要求不同于一般的檢測的金相制樣。首先，對于制作圖像的試樣磨面，平面度要特別的好，因為在放大1600倍的顯微鏡下，試樣磨面的任何弧度都會(huì )造成攝影焦點(diǎn)不一致，圖像就不能完整而清晰地反映樣品的本來(lái)特征。在金相顯微鏡的高倍率下，才可能顯示很多細節的影像。試樣上細微的劃痕、腐蝕坑、變形也會(huì )暴露、顯現，這對于清晰的圖像以及正確的顯微組織顯示是一大干擾。
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